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논문 기본 정보

자료유형
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저자정보
저널정보
한국원자력학회 Nuclear Engineering and Technology Nuclear Engineering and Technology 제50권 제8호
발행연도
2018.1
수록면
1,298 - 1,305 (8page)

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The use of System-on-Chip (SoC) solutions in the design of on-board data handling systems is animportant step towards further miniaturization in space. However, the Total Ionizing Dose (TID) andSingle Event Effects (SEE) characterization of these complex devices present new challenges that areeither not fully addressed by current testing guidelines or may result in expensive, cumbersome testconfigurations. In this paper we report the test setups, procedures and results for TID testing of a SoCmicrocontroller both using standard 60Co and low-energy protons beams. This paper specifically pointsout the differences in the test methodology and in the challenges between TID testing with proton beamand with the conventional gamma ray irradiation. New test setup and procedures are proposed whichare capable of emulating typical mission conditions (clock, bias, software, reprogramming, etc.) whilekeeping the test setup as simple as possible at the same time.

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G. Furano / 2013 / Review of radiation hard electronics activities at European Space Agency / J. Instrum 8(2) google schola G. Furano / Roadmap for On-board Processing and Data Handling Systems in Space, - Dependable Multicore Architectures at Nanoscale :253~281 google schola D. Sinclair / 2013 / Radiation effects and COTS parts in SmallSats / 27th Annual AIAA/USU Conference on Small Satellites google schola Ran Ginosar / 2012 / Survey of Processors for Space google schola 2016 / Total Dose Steady-state Irradiation Test Method google schola

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