에피택셜 VO₂ 박막의 상전이에 대한 미시적 이해

김동욱 ,  손아름

한국표면공학회지

2017 .06

Kelvin Probe를 이용한 금속의 대기 부식 연구

정경우 ,  김광범

한국표면공학회 학술발표회 초록집

1997 .05

표면 전하 현미경, 금 나노 입자를 통한 알루미늄 이온의 무표지, 고민감도 검출 기법

김웅 ,  박주형 ,  조성재 외 2명

대한기계학회 춘추학술대회

2016 .04

금 나노 입자와 표면 전하 현미경을 이용한 고민감도 알루미늄 이온 검출 기법

김웅 ,  박주형 ,  조성재 외 2명

대한기계학회 춘추학술대회

2016 .04

Study of Nano-Structure by Using Scanning Probe Microscopy

K ,  Young-u

한국재료학회 학술발표대회

1992 .01

Scanning Probe Microscopy of Polymer Materials

K . J . Ihn ,  J . A . N . Zasadzinski

고분자 과학과 기술

1992 .03

금 나노입자를 이용한 시각적 개선 표면전하현미경 기반 알루미늄 이온의 고민감 검출

김웅 ,  김민우 ,  박주형 외 2명

대한기계학회 춘추학술대회

2016 .12

SPM(Scanning Probe Microscopy)

박상일

기계와 재료

2002 .01

모발특성 측정을 위한 AFM 나노프로브 시스템 개발

권용민 ,  권현규

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2016 .05

AFM을 이용한 나노스케일 힘의 정량적 측정

정구현

Tribology and Lubricants

2012 .04

켈빈 탐침력 현미경을 이용한 은이온 검출

박진성 ,  박주형 ,  김웅 외 2명

대한기계학회 춘추학술대회

2016 .04

Kelvin 진동자를 이용한 새로운 실험 기법에 의한 박막으로 덮인 금속의 부식 거동에 대한 연구

김기태

한국표면공학회 학술발표회 초록집

1991 .05

The Application of AFM (Atomic Force Microscopy) in Biomaterials

정유진

한국고분자학회 학술대회 연구논문 초록집

2018 .10

Design of Probe Head for Dynamic Mode AFM

M. A. C ,  uz ,  S. H. Lee

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2016 .05

SPM(Scanning Probe Microscopy) 기술을 이용한 고분자 재료 분석

유경희 ,  신현정

고분자 과학과 기술

2007 .12

Scanning Tunneling Microscopy (STM)/Atomic Force Microscopy (AFM) Studies of Silicon Surfaces Treated in Alkaline Solutions of Interest to Semiconductor Processing

Jin-Goo Pa ,  k

한국표면공학회 학술발표회 초록집

1994 .10

Scanning Tunneling Microscopy (STM)/Atomic Force Microscopy (AFM) Studies of Silicon Surfaces Treated in Alkaline Solutions of Interest to Semiconductor Processing

Jin Goo Pa ,  k

한국표면공학회지

1995 .02

Scanning Probe Microscopy를 이용한 국소영역에서의 실리콘 나노크리스탈의 전기적 특성 분석

金政民 ,  許泫廷 ,  姜致中 외 1명

전기학회논문지 C

2005 .10

SPM 기술과 고분자 분석

윤완수

고분자 과학과 기술

2004 .06