메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색

논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
저널정보
한국마이크로전자및패키징학회 마이크로전자 및 패키징학회지 마이크로전자 및 패키징학회지 제21권 제1호
발행연도
2014.1
수록면
13 - 17 (5page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색

초록· 키워드

오류제보하기
The direct-patternable SnO2 thin film was successfully fabricated by photochemical metal-organic deposition. The composition and chemical bonding state of SnO2 thin film were analyzed by using X-ray photoelectron spectroscopy(XPS) from the surface to the interface with Si substrate. XPS depth profiling analysis allowed the determination of theatomic composition in SnO2 film as a function of depth through the evolution of four elements of C 1s, Si 2p, Sn 3d,and O 1s core level peaks. At the top surface, nearly stoichiometric SnO2 composition (O/Sn ratio is 1.92.) was observeddue to surface oxidation but deficiency of oxygen was increased to the interface of patterned SnO2/Si substrate wherethe O/Sn ratio was about 1.73~1.75 at the films. This O deficient state of the film may act as an n-type semiconductorand allow SnO2 to be applied as a transparent electrode in optoelectronic applications.

목차

등록된 정보가 없습니다.

참고문헌 (13)

참고문헌 신청

이 논문의 저자 정보

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0