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논문 기본 정보

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학술대회자료
저자정보
한상우 (한국교통대학교) 정영석 (한국교통대학교) 김윤 (서울시립대학교) 강명곤 (한국교통대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2019년도 대한전자공학회 하계종합학술대회 논문집
발행연도
2019.6
수록면
209 - 213 (5page)

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본 논문은 3D NAND 플래시 메모리의 Cell 패턴에 변화를 주었을 경우에 나타나는 Down Coupling Phenomenon(DCP)에 대해 비교하고 분석하였습니다. 3D NAND 플래시 메모리의 구조는 메인 Cell 의 Channel 이 body 와 연결되어 있지 않아 쉽게 Floating 상태가 된다. 이러한 Floating 상태로 인하여 Channel Potential 이 낮아지는 현상인 DCP 가 발생합니다. 이때 인접 Cell 의 Pattern 변화에 따른 DCP 현상을 분석했다.

목차

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I. 서론
II. 본론
III. 결론
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