Optimum triangular cyclic-stress ALT plan with independent competing causes of failure

P. W. Srivastava; T. Gupta

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자료유형: 학술저널

저자정보: P. W. Srivastava (University of Delhi) T. Gupta (University of Delhi)

저널정보: 한국신뢰성학회 International Journal of Reliability and Applications International Journal of Reliability and Applications 제19권 제1호

발행연도: 2018.6

수록면: 43 - 58 (16page)

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Accelerated life tests (ALTs) are used to make timely assessments of the life time distribution of highly reliable materials and components. The goal of an accelerated life test is to speed up the failure process to obtain timely information about products with a long life. Competing Failure is an important topic in Reliability. There are cases where the product can fail due to more than one cause (for e.g. Mechanical, Electrical etc). In this paper, the triangular cyclic-stress model under Type-I censoring is considered when the different failure causes have s-independent exponential life time distributions. Triangular cyclic-stress finds its application in thermal cycling that involves applying high and low temperatures alternatively over time. The optimal plan in consist in finding out relevant experimental variables, namely, stress rates and stress rate change points by maximizing the log to the base 10 of the determinant of Fisher Information Matrix. The method develop has been explained using a numerical example and sensitivity analysis carried out.

#accelerated life test #competing risk #triangular cyclic-stress #exponential distribution #fisher information matrix

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P. W. Srivastava

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T. Gupta

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