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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
김호연 (Korea University of Technology and Education) 조재수 (Korea University of Technology and Education)
저널정보
한국정보통신학회 한국정보통신학회논문지 한국정보통신학회논문지 제23권 제2호
발행연도
2019.2
수록면
127 - 132 (6page)

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본 논문에서는 사출성형 자동차부품의 외관 품질과 생산성을 높이기 위하여 사출성형 자동차부품의 외관 비전검사 방법을 제안한다. 일반적으로 기존 사출성형 자동차부품의 외관검사는 사람에 의한 매뉴얼 샘플링 검사로 진행된다. 먼저 전자부품(TFT-LCD 및 PCB 등) 비전검사에 활용되는 Edge-Tolerance 비전검사 알고리즘([1]-[4])을 사출성형 부품 외관검사에 적용하고, 그 문제점을 파악하였다. 그리고 그 문제점을 극복하는 새로운 외관 비전검사 방법을 제안한다. 제안된 외관비전검사는 양품 기준영상을 기준으로 검사하고자 하는 부품의 검사영상을 정렬한 후, 부분적인 적응적 이진화 후, 이진블록매칭 알고리즘을 이용하여 양품 이진영상과 검사이진영상을 블록단위로 비교함으로써 불량부분을 검출한다. Edge-Tolerance 비전검사 알고리즘과 제안된 외관비전검사 방법을 실제 개발된 장비를 이용하여 다양한 비교 실험을 통하여 그 효용성을 검증하였다.
#사출성형 #자동차부품 #형상비전검사 #공장자동화 #Injection Molding #Automotive Parts #Exterior Vision Inspection #Factory Automation

목차

요약
ABSTRACT
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 제안하는 사출성형 자동차부품 형상비전검사 방법
Ⅲ. 실험결과
Ⅳ. 결론 및 추후과제
REFERENCES

참고문헌 (9)

참고문헌 신청
H. Onishi / 2002 / A Pattern Defect Inspection Method by Parallel Grayscale Image Comparison without Precise Image Alignment / Conference of the Industrial Electronics Society 3:2208~2213 google schola K. Sakai / 2016 / Defect detection method using statistical image processing of scanning acoustic tomography / International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits :293~296 google schola J. S. Cho / 2007 / TFT-LCD Defect Inspection Method by Morphological Image Processing / Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers google schola 조재수 / 2008 / TFT-LCD 자동 수선시스템에서 결함이 있는 셀을자동으로 추출하는 방법 / 제어.로봇.시스템학회 논문지 14(5):432~437 google schola 김진형 / 2015 / 평판 디스플레이 결함 검출을 위한 자기참조 PCSR-G 기법 / 멀티미디어학회논문지 18(3):312~322 dbpia

이 논문의 저자 정보

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