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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
장유신 (Hanwha Systems)
저널정보
한국컴퓨터정보학회 한국컴퓨터정보학회논문지 한국컴퓨터정보학회 논문지 제23권 제11호(통권 제176호)
발행연도
2018.11
수록면
67 - 74 (8page)

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장유신 ,  곽도영 ,  신영돈 정보 및 제어 논문집 2017.10 학술대회자료

초록· 키워드

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The verification for the design limit margin of the power device for the information communication and surveillance systems using HALT(Highly Accelerated Life Test) reliability test is described. The HALT reliability test performs with a step stress method which change condition until the marginal step in a design and development phase. The HALT test methods are the low temperature(cold) step stress test, the high temperature(hot) step stress test, the thermal shock cyclic stess test, and the high temperature destruct limit(hot DL) step stress test. The power device is checked the operating performance during the test.
In this paper, the HALT was performed to find out the design limit margin of the power device.
#HALT(Highly Accelerated Life Test) #Reliability test #Power device #Design limit margin

목차

Abstract
I. Introduction
II. Preliminaries
III. The Proposed Scheme
IV. Conclusions
REFERENCES

참고문헌 (15)

참고문헌 신청
[학술지(정기간행물)] - J. W. Park / 2007 / Planning Accelerated Life Tests with Two Stress Variables: The Cases of Weibull Lifetime Distribution / Journal of the Korean Institute of Industrial Engineers 2007 (5) google schola [학위논문] - 이복신 / 2006 / 가속수명시험법을 이용한 냉장고용 자동제빙기의 신뢰성 향상에 관한 연구 / 석사 / 전남대학교 교육대학원 google schola [학술지(정기간행물)] - 임광현 / 2012 / 소프트웨어 신뢰도 품질측정 방안에 관한 연구 / 한국컴퓨터정보학회논문지 17 (12) : 187 ~ 198 dbpia [학술지(정기간행물)] - S. Seo / 1997 / Optional Design of Accelerated Life Tests under Model Uncertainty / Journal of the Korean Society for Quality Management 29 (3) : 49 ~ 65 google schola [단행본] - W. Nelson / 1990 / Accelerated Testing: Statistical Models, Test Plans, and Data Analysis / Wiley google schola

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