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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
한지훈 (Hanwha Systems company)
저널정보
한국컴퓨터정보학회 한국컴퓨터정보학회논문지 한국컴퓨터정보학회 논문지 제23권 제8호(통권 제173호)
발행연도
2018.8
수록면
1 - 7 (7page)

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Previous test equipment was bulky, took a long time to check, and was somewhat less economical. Since most of the checks were about analog signals, we preferred to check them using reference equipments.
In this paper, a digital circuit design based on AITS is used to implement signals that can not utilize commercial measurement resources, and also designed and manufactured equipment that can inspect SRU. These test equipments were tested and evaluated by development, operation, and field evaluation, and they were installed to the Korean Field Force.
This contributed to the improvement of operability by shortening the inspection time from 83.2 minutes to 7.8 minutes on average In addition, it did not utilize the reference equipment, so it could play a big role in lowering the mass production cost.
#UUT #Digital Circuit #Automatic Integrated Test Station #VHDL #FPGA

목차

Abstract
Ⅰ. Introduction
Ⅱ. Preliminaries
Ⅲ. Digital circuit design
Ⅳ. Results analysis
Ⅴ. Conclusions
REFERENCES

참고문헌 (8)

참고문헌 신청
W. K. Kim / 2012 / Design and Implementation of the multi-function switching system for Automatic Test Equipment(ATE) / Journal of the Graduate School of Industry Kumoh National Institute of Technology google schola 윤영호 / 2010 / 무기체계 양산단계 자동화 시험장비(ATE) SW신뢰성 향상 방안 연구 / 전자공학회논문지 - SC 47(6):19~26 dbpia 최경진 / 2016 / 사격통제장치 시스템 시험의 신뢰성 향상을 위한 생산시험장비에 관한 연구 / 전자공학회논문지 53(11):139~147 dbpia 김동준 / 2016 / 무기체계 오류 검증을 위한 실시간 시스템 병렬시험 기법 / 전자공학회논문지 53(11):130~138 dbpia 김동일 / 2017 / Design and Fabrication of Test Equipment for mass production of Automatic Test Equipment(ATE) / 한국컴퓨터정보학회논문지 22(8):1~7 google schola

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