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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
Hoojin Lee (Hansung University)
저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지 전자공학회논문지 제55권 제3호(통권 제484호)
발행연도
2018.3
수록면
61 - 66 (6page)
DOI
10.5573/ieie.2018.55.3.61

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본 논문에서는 Hoyt 페이딩 채널에서 MRC 다이버시티 및 저복잡도 Greedy 신호 검출 기법이 적용된 MCIK-OFDM 시스템의 평균 쌍 오류 확률 (pairwise error probability)의 상한 (upper bound)에 대한 효율적인 닫힌 형태의 새로운 수식을 유도한다. 또한, 이를 이용하여 주어진 시스템 및 채널 환경에서 대표적인 시스템 점근 성능 지표들 (점근적 평균 쌍 오류 확률 상한, 부호 이득, 다이버시티 계수 등)의 수식을 유도 및 분석하였으며, 이로부터 높은 신호 대 잡음비 (SNR) 영역에서 Hoyt 페이딩 채널이 MCIK-OFDM 시스템의 오류 확률 성능에 미치는 영향을 보다 명확하게 예측할 수 있게 된다. 유도되고 분석된 결과들의 타당성을 입증하기 위한 다양한 수치 결과들을 제시한다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. Introduction
Ⅱ. System and Channel Models
Ⅲ. PEP Analysis of MCIK-OFDM-MRC
Ⅳ. Numerical Results
Ⅴ. Conclusions
REFERENCES

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