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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2018.3
- 수록면
- 49 - 55 (7page)
- DOI
- 10.33162/JAR.2018.03.18.1.49
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Purpose: To propose improved method for normalization, compare to the de facto international standard which is IESNA TM-21 or conventional normalization methods.
Methods: Firstly, we analysed conventional methods and specified the problem of normalization method which is based on first measured data. Secondly, we proposed our approach which is based on the design specification. Lastly, we studied a real degradation data which is conducted for 15,000 hours.
Conclusion: Proposed normalization method is better approach because it can reflect real data and design specification, and reduce distortion when analysing degradation data. Also, It is appliable to other long-life reliability items.
Methods: Firstly, we analysed conventional methods and specified the problem of normalization method which is based on first measured data. Secondly, we proposed our approach which is based on the design specification. Lastly, we studied a real degradation data which is conducted for 15,000 hours.
Conclusion: Proposed normalization method is better approach because it can reflect real data and design specification, and reduce distortion when analysing degradation data. Also, It is appliable to other long-life reliability items.
목차
1. 서론
2. 본론
3. 결론
References
참고문헌 (6)
참고문헌 신청
IESNA Light Source Committee / 2005 / IESNA Technical Memorandum on Light Emitting Diode (LED) Sources and Systems :001
IESNA The Subcomittee on Solid State Lighting of the IES Testing Procedures Committee / 2008 / IES Approved Method for Measuring Lumen Maintenance of LED Light Sources
IESNA The Subcomittee on Solid State Lighting of the IES Testing Procedures Committee / 2011 / Projecting Long Term Lumen Maintenance of LED Light Sources
Fan, J. / 2012 / Lifetime estimation of high-power white LED using degradation-data-driven method / IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 12(2):470~477
Wang, F. K. / 2014 / Useful lifetime analysis for high-power white LEDs / Microelectronics Reliability 54:1307~1315
IESNA The Subcomittee on Solid State Lighting of the IES Testing Procedures Committee / 2008 / IES Approved Method for Measuring Lumen Maintenance of LED Light Sources
IESNA The Subcomittee on Solid State Lighting of the IES Testing Procedures Committee / 2011 / Projecting Long Term Lumen Maintenance of LED Light Sources
Fan, J. / 2012 / Lifetime estimation of high-power white LED using degradation-data-driven method / IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 12(2):470~477
Wang, F. K. / 2014 / Useful lifetime analysis for high-power white LEDs / Microelectronics Reliability 54:1307~1315
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