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저자정보
김성호 (영남대학교) 곽종욱 (영남대학교)
저널정보
한국컴퓨터정보학회 한국컴퓨터정보학회 학술발표논문집 2018년 한국컴퓨터정보학회 동계학술대회 논문집 제26권 제1호
발행연도
2018.1
수록면
1 - 4 (4page)

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본 논문에서는 낸드 플래시 메모리 시스템에서 가비지 컬렉션과 마모도 평준화를 동시에 수행하는 환경에서 발생 할 수 있는 세 가지 내재된 문제점들을 제시한다. 제시한 문제점들은 낸드 플래시 메모리의 추가적인 수명 연장을 방해 할 뿐만 아니라, 페이지 이주 오버헤드를 초래하는 근본적인 원인이 된다. 이러한 내재된 문제점들의 원인 분석은 다음과 같이 진행한다. 첫 번째, 세 가지 내재된 문제점들에 대한 시나리오를 구성하고, 구성한 시나리오에서 발생할 수 있는 문제점들을 제시한다. 두 번째, 각 시나리오에서 발생하는 문제점을 파악하고, 그로 인해 낸드 플래시 메모리의 수명에 영향을 끼칠 수 있는 위험성을 분석한다. 마지막으로 분석한 위험성을 토대로 이를 이론적으로 고찰하고, 그에 대한 해결책을 제시한다. 이러한 해결 방안은 낸드 플래시 메모리의 추가적인 수명 연장에 대한 새로운 방향성을 제시할 것이다. 또한 이것은 가비지 컬렉션과 마모도 평준화를 동시에 수행하는 모든 시스템 환경에 적용 가능하므로, 기존 기법들의 장점들을 그대로 활용함과 동시에 낸드 플래시 메모리의 추가적인 수명 연장을 기대 할 수 있다.
#낸드 플래시 메모리(NAND flash memory) #마모도 평준화(wear leveling) #가비지 컬렉션(garbage collection) #페이지 이주(page migration) #위험성 분석(risk analysis)

목차

요약
I. Introduction
II. Background and Related Works
III. Analysis of Inherent Risks by Garbage Collection and Wear Leveling
IV. Theoretical Considerations for Prolongation of NAND Flash Memory Lifetime
V. Conclusions
REFERENCES

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