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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
윤영호 (조선대학교) 김대희 (조선대학교) 주기남 (조선대학교)
저널정보
Korean Society for Precision Engineering Journal of the Korean Society for Precision Engineering Journal of the Korean Society for Precision Engineering Vol.34 No.4
발행연도
2017.4
수록면
259 - 264 (6page)

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Spectrally resolved interferometry (SRI) is an attractive technique to measure absolute distances without any moving components. In the spectral interferogram obtained by a spectrometer, the optical path difference (OPD) can simply be extracted from the linear slope of the spectral phase. However, SRI has a fundamental measuring range limitation due to maximum and minimum measurable distances. In addition, SRI cannot distinguish the OPD direction because the spectral interferogram is in the form of a natural sinusoidal function. In this investigation, we describe a direction determining SRI and propose the optimal conditions for determining OPD direction. Spectral phase nonlinearity, caused by a dispersive material, effects OPD direction but deteriorates spectral interferogram visibility. In the experiment, various phase nonlinearities were measured by adjusting the dispersive material (BK7) thickness. We observed the interferogram visibility and the possibility of direction determination. Based on the experimental results, the optimal dispersion conditions are provided to distinguish OPD directions of SRI.
#Spectrally-resolved interferometry (분산간섭계) #Nonlinear phase (비선형 위상) #Dispersion (분산) #Direction ambiguity (방향 모호성) #Dispersive material (분산 물질) #Visibility (가시도)

목차

1. 서론
2. 방향 판별 분산간섭계 최적 조건
3. 실험
4. 결론
REFERENCES

참고문헌 (8)

참고문헌 신청
Schnell, U., Zimmermann, E., and Dandliker, R., “Absolute Distance Measurement with Synchronously Sampled White- Light Channelled Spectrum Interferometry,” Pure and Applied Optics, Vol. 4, No. 5, pp. 643-651, 1995. Hlubina, P., “Experimental Demonstration of the Spectral Interference between Two Beams of a Low-Coherence Source at the Output a Michelson Interferometer,” Journal of Modern Optics, Vol. 44 No. 1, pp.163-173, 1997. Schnell, U., Dandliker, R., and Gray, S., “Dispersive White-Light Interferometry for Absolute Distance Measurement with Dielectric Multilayer Systems on the Target,” Optics Letters, Vol. 21, No. 7, pp. 528-530, 1996. Joo, K.-N. and Kim, S.-W., “Absolute Distance Measurement by Dispersive Interferometry Using a Femtosecond Pulse Laser,” Optics Express, Vol. 14, No. 13, pp. 5954-5960, 2006. Joo, K.-N., “Dichroic Spectrally-Resolved Interferometry to Overcome the Measuring Range Limit,” Measurement Science and Technology, Vol. 26, No. 9, Paper No. 095204, 2015.

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