메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
한병조 (인천재능대학교) 이연 류봉조 (한밭대학교) 구경완 (호서대학교)
저널정보
대한전기학회 전기학회논문지 전기학회논문지 제65권 제10호
발행연도
2016.10
수록면
1,786 - 1,791 (6page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
The damage has occurred inside the semiconductor pattern When using conventional wet station for semiconductor. It was used for electrolytic ion water generator in order to prevent damage to the semiconductor pattern. It was designed and developed a flow path electrode and the mesh electrode to check the efficiency of the electrode. And It confirmed the expected results through the simulation of the flow path. and ORP were measured in accordance with the current and voltage of mesh electrode and flow paht electrodes. Flow path electrode 22A is 3V, up to pH 9.8, the value of ORP-558mV was measured and the mesh electrode was measured up to pH 9.8, ORP -350㎷.

목차

Abstract
1. 서론
2. 본론
3. 결론
References

참고문헌 (12)

참고문헌 신청

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

이 논문과 함께 이용한 논문

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2017-560-001344030