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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2013.6
- 수록면
- 208 - 213 (6page)
이용수
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본 논문에서는 파워클램프용 높은 홀딩 전압을 갖는 사이리스터(SCR: Silicon Controlled Rectifier)구조에 기반한 새로운 구조의 ESD 보호회로를 제안하였다. 제안된 보호회로는 기존의 SCR 구조의 p-well과 n-well에 floating p+, n+를 삽입하여 홀딩 전압을 증가 시켰다. 제안된 보호회로는 높은 홀딩전압 특성으로 높은 래치업 면역성을 갖는다. 본 연구에서 제안된 보호회로의 전기적 특성 및 ESD 감내특성을 확인하기 위해 Synopsys사의 TCAD Tool을 이용하여 시뮬레이션을 수행하였다. 시뮬레이션 결과 제안된 보호회로는 기존 SCR 기반 ESD 보호회로보다 약 4.98 V의 높은 홀딩전압과 추가적인 floating 영역의 사이즈 변화로 최대 13.26 V의 홀딩전압을 갖는 것을 확인하였다. 또한 기존 SCR 기반 보호회로와 동일한 수준의 감내특성을 갖는 것으로 확인되었다.
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참고문헌 (7)
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1. [단행본] - Wang AZH / 2002 / On-chip ESD protection for integrated circuit, In An IC design perspective. 2nd ed / Kluwer Academic Publisher
2. [단행본] - O.Semenov / 2008 / ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies / Springer
3. [단행본] - O. Semenov / 2008 / ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies / Springer
4. [보고서] - / 2007 / A Case for Lowering Component Level HBM/MM. ESD Specifications and Requirements, Industry Council on ESD Target Levels : 1 ~ 60
5. [단행본] - Fred G. Kouper / 2008 / Automotive IC reliability : Elements of the battle towards zero defects / Microelectronics Reliability : 1459 ~ 1463
2. [단행본] - O.Semenov / 2008 / ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies / Springer
3. [단행본] - O. Semenov / 2008 / ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies / Springer
4. [보고서] - / 2007 / A Case for Lowering Component Level HBM/MM. ESD Specifications and Requirements, Industry Council on ESD Target Levels : 1 ~ 60
5. [단행본] - Fred G. Kouper / 2008 / Automotive IC reliability : Elements of the battle towards zero defects / Microelectronics Reliability : 1459 ~ 1463
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