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저자정보
이창준 (앤스코) 이규성 (앤스코) 신충호 (앤스코) 이경준 (앤스코) 장윤영 (앤스코)
저널정보
한국비파괴검사학회 비파괴검사학회지 비파괴검사학회지 제36권 제4호
발행연도
2016.8
수록면
288 - 294 (7page)

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Flexible ECT (eddy current array) probe를 사용하여 판재 및 용접부에 존재하는 notch 결함을 MS-5800E와 OmniScan MX 장비로 검출능력을 비교하고, 주파수와 lift-off를 변수로 신호의 특성을 비교하고자 하였다. 실험 결과, 500, 1000, 1500 kHz를 사용하였을 때 notch 깊이가 증가할수록 신호의 진폭이 증가하는 것으로 나타났고, lift-off 변화에 따른 신호의 진폭은 선형적으로 감소하였다. 또한 용접부 결함은 probe와 시험체의 접촉면에 밀접한 관계가 있다. Probe와 시험체의 접촉면이 양호한 경우 검출감도가 우수하고 그렇지 않은 경우에는 검출감도가 떨어지는 것을 알 수 있었다.
#비파괴검사 #와전류탐상 #Flexible ECA (Eddy Current Array) Probe #Lift-off #표준침투깊이 #Non-Destructive Testing #Eddy Current Test #Skin Depth

목차

초록
Abstract
1. 서론
2. 이론 및 기본원리
3. 실험
4. 실험 결과
5. 결론
References

참고문헌 (5)

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[학술지(정기간행물)] - 김지호 / 2010 / 전자기 수치해석을 이용한 표준보정시험편의 배열형 와전류 탐촉자 신호 특성 해석 / 비파괴검사학회지 30 (4) : 330 ~ 337 dbpia [학술대회논문] - R. J. Bell / 2013 / An engineer’s guide to eddy current testing / ASME 2013 Power Conference : 1 ~ 8 google schola [보고서] - D. J. Hagemaier / 1990 / Fundamentals of Eddy Current Testing google schola [기타자료] - V. S. Cecco / 1986 / Advanced manual for: Eddy current test method / CAN/CGSB-48.14-M86 google schola [기타자료] - / / OmniScan MX and MX2 User's Manual DMTA-20015-01EN-Rev. G google schola

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