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저자정보
이재민 (한국항공대학교) 정인환 (한국항공대학교) 이재욱 (한국항공대학교) 이영승 (한국전자통신연구원) 권종화 (한국전자통신연구원)
저널정보
한국전자파학회 한국전자파학회논문지 韓國電磁波學會論文誌 第27卷 第3號
발행연도
2016.3
수록면
284 - 290 (7page)

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최근 과학의 발전으로 인해 여러 장소에서 전자기기의 활용도가 높아졌기 때문에 예기치 못한 전자기파로 인한 오작동과 하드웨어와 소프트웨어의 치명적인 손상을 확인할 수 있는 안전 기술들이 요구되었다. 기존의 전자 제품뿐만 아니라 소형화 전자기기들이 복잡도가 높은 대형구조물 안에 비치가 되면서 그에 대한 전자파 영향을 맥스웰 방정식(Maxwell Equation)으로 모두 해석하기에는 여러 한계점을 갖고 있다. 본 논문에서는 대형 구조물에서의 복잡한 전자파해석을 위해 확률론에 바탕을 둔 PWB(PoWer Balance) Method와 위상학적 모델링을 적용하여 내부의 전파 영향을 해석하고자 한다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 확률론을 적용한 해석 방법
Ⅲ. 결론
References

참고문헌 (9)

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