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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2016.3
- 수록면
- 1 - 8 (8page)
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In this paper, we proposed a new driving scheme to reduce the motion blur and save the power for OLEDs(organic light emitting diodes). We adopted a DVS (dynamic voltage scaling) method to reduce power consumption and the division of TV field to improve motion blur. In the proposed scheme, BEW (Blur Edge Width) was decreased to the ratio of 1/4 compared to the conventional scheme under the optimal conditions. In this scheme, the gray levels to which the DVS method can be applied were divided into much smaller groups depending on the number of subfields. Therefore, our scheme does not guarantee less power consumption for every image compared to the conventional scheme. However, the new scheme can move the gray levels adopting the DVS to higher gray levels. Thus, we can save power even when having images at high gray levels.
목차
Abstract
1. 서론
2. OLED 구동과 DVS 적용
3. 서브필드 분할방식에서 DVS 적용
4. 서브필드 분할방식의 모션블러
5. 결론
References
참고문헌 (9)
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Sugimoto A., Ochi H.,Fujimura S., Yoshida A., Miyadera T., Tsuchida M., “Flexible OLED displays using plastic substrate”, IEEE journal of selected topics in quantum electronics, vol.10(1), pp.107-114, 2004.
Patrick G.,Michelle S., Jens M., Michael K, Eike B., Hans-Hermann J., Wolfgang K., and Thomas R., “Towards see-through displays: fully transparent thin-film transistors driving transparent OLEDs”, Advanced materials, vol. 18(6), pp.738-742, 2006.
Jongbin K., Minkoo K.,Seungryeol K, Seungwoo Lee, “Driving technology for improving motion quality of active-matrix organic light-emitting diode display”, Optical Engineering, vol. 53(9), pp. 093105, 2014.
Tae-gung K, Seung-tae K., Sang-ho Y.,Kyung-don W.,Woo-suk H., Bum-sik K., and Byung-chul A., “A novel power saving technology for OLED TV with external TFT compensation”, SID symposium digest of technical papers“, Vol.45(1),pp.728-731,2014.
Kyonghwan O., Seongkwan H., Ohkyung K., “Lifetime extension method for AMOLED displays using a modified streched exponential decay model”, IEEE electron device letters, Vol.36(3), pp.277-279, 2015.
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