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한국컴퓨터정보학회 한국컴퓨터정보학회논문지 한국OA학회 논문지 제6권 제4호
발행연도
2001.12
수록면
1 - 5 (5page)

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본 연구는 영상처리의 전처리과정으로 중요한 영상 이진화를 위해 사용되는 전역임계값 결정을 위한 새로운 접근 방법을 제안하였다. 제안한 알고리즘은 원 영상의 전체적인 윤곽을 가장 많이 포함하는 최상위 비트평면을 사용하여 영상을 중복되지 않는 두 영역으로 구분한 뒤, 두 영역의 평균 밝기 값의 차이로 임계값을 결정하는 전역 임계화 방법이다. 실험결과 제안한 방법은 인위적인 초기값 설정을 필요로 하지 않으며, 상대적으로 계산량이 적고 원 영상의 윤곽을 양호하게 보존하는 이진영상을 얻을 수 있었다.

목차

요약

Abstract

Ⅰ. 서론

Ⅱ. 비트평면

Ⅲ. 임계화 알고리즘

Ⅳ. 실험 및 고찰

Ⅴ. 결론

참고문헌

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