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이용수
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 결함 모델링과 일반적인 DC 파라메터 테스트 방법
Ⅲ. 핀간 결함 모델링과 핀간 DC 파라메터 테스트 방법
Ⅳ. VLSI 소자 테스트 결과 및 고찰
Ⅴ. 결론
참고문헌
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