지원사업
학술연구/단체지원/교육 등 연구자 활동을 지속하도록 DBpia가 지원하고 있어요.
커뮤니티
연구자들이 자신의 연구와 전문성을 널리 알리고, 새로운 협력의 기회를 만들 수 있는 네트워킹 공간이에요.
논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 저널정보
- 대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 CAD 및 VLSI 설계 연구회 종합 학술 대회 1994 : ASIC Design Workshop, 신진 박사 논문 발표 대회 및 공개 토론회 논문집
- 발행연도
- 1994.7
- 수록면
- 263 - 281 (19page)
이용수
초록· 키워드
오류제보하기
등록된 정보가 없습니다.
목차
Abstract
1. Introduction
2. Forward Time Processing
3. Backward Time Processing
4. Experimental Results
5. Extension and Future Work
Reference
참고문헌 (0)
참고문헌 신청함께 읽어보면 좋을 논문
논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!
-
Test Generation for Sequential Circuits Using Partitioned Image Computation
JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
1993 .01
-
Feedback Analysis of Sequential Circuits
JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
1994 .01
-
Test Generation for Sequential Circuits Using Shared Binary Decision Diagram
KITE JOURNAL OF ELECTRONICS ENGINEERING
1993 .01
-
河川流量의 Sequential Generation에 관한 硏究
대한토목학회지
1971 .12
-
An Automatic Test Pattern Generator for Sequential Circuits with Three-State Elements
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1997 .01
-
시이컨셜회로 구현에 관한 연구
대한전자공학회 학술대회
2012 .11
-
A Parallel Algorithm For The Synthesis of Sequential Circuits
대한전자공학회 기타 간행물
1992 .01
-
An Improvement of a State Encoding Algorithm for Sequential Circuits
JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
1991 .01
-
Design and Simulation of Neural Network Digital Sequential Circuits
JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
1993 .01
-
TEST GENERATION FOR SEQUENTIAL CIRCUIT BASED ON BOOLEAN FUNCTION MANIPULATION
JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
1992 .01
-
회로 분할에 의한 순차회로의 테스트생성 ( Test Generation for Sequential Circuits Based on Circuit Partitioning )
전자공학회논문지-C
1998 .04
-
회로 분할에 의한 대규모 순차회로의 테스트 생성 ( Test Generation for large Scale Sequential Circuits Based on Circuit Partitioning )
한국통신학회 학술대회논문집
1997 .01
-
Built-In Self Test 방식에 의한 순서회로의 설계 ( Design of Sequential Circuit Using Built-In Self Test Method )
전자공학회논문지
1987 .09
-
상태 정보 학습을 이용한 새로운 순차회로 ATPG 기법 ( New Test Generation for Sequential Circuits Based on State Information Learning )
한국통신학회논문지
2000 .04
-
An Optimal State Assignment Algorithm of Sequential Circuit for VLSI Design
JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
1988 .01
-
동기식 순서논리회로의 자동시험패턴생성 ( Automatic Test Pattern Generation of Synchronous Sequential Circuit )
특정연구 결과 발표회 논문집
1989 .01
-
동기식 순서논리회로의 자동시험패턴생성 ( Automatic Test Pattern Generation of Synchronous Sequential Circuit )
한국통신학회 학술대회논문집
1989 .01
-
A High Speed Fault Simulator for Sequential Circuits with Bidirectional Elements
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1991 .01
-
A Hierarchical Test Generation for Asynchronous Circuits
ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
2002 .07
-
PAM-STAMP 2nd Generation
박판성형 심포지엄
2003 .08
이 논문의 저자 정보
최근 본 자료
댓글(0)
0