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이용수
ABSTRACT
Ⅰ. 서론
Ⅱ. BiCMOS회로의 고장특성
Ⅲ. BiCMOS 회로의 검사용이화 설계
Ⅳ. 결론
참고문헌
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1989 .02
고속 풀 스윙 BiCMOS ( HF-BiCMOS ) 회로의 고장특성 및 테스트 방식 ( Fault Characteristics and Testing Techniques of a High Speed Full-Swing BiCMOS ( HF-BiCMOS ) Circuits )
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대한전자공학회 학술대회
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