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이용수
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 결론
참고문헌
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0.18um CMOS 공정에서 밴드갭 기준회로를 이용한 교정 가능한 정밀 온도센서
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0.5V CMOS 밴드갭 기준 전압 발생 회로 설계
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1.1V에서 동작하는 CMOS 밴드갭 기준 전압 발생기 회로
대한전자공학회 학술대회
2004 .12
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2009 .11
밴드갭 기준 전압을 이용한 CMOS 전압 제어 발진기의 설계
전기학회논문지 C
2003 .10
적분기를 이용한 고 정밀 CMOS 온도센서
대한전자공학회 학술대회
2006 .11
온도 보상 회로가 포함된 CMOS 기준 전압원의 설계
대한전자공학회 학술대회
2006 .11
CMOS Bandgap 기준 전압/전류 발생기 및 방사능 응답
대한전자공학회 학술대회
2003 .07
저전력 CMOS 기준전류 발생회로
대한전자공학회 학술대회
2001 .06
저전력 CMOS 기준전압 발생 회로 ( A Low-Power CMOS Voltage Reference Circuit )
대한전자공학회 학술대회
1998 .01
CMOS 이미지 센서를 이용한 움직임 인식에 관한 연구
대한전자공학회 학술대회
2014 .06
CMOS 영상 센서를 위한 광 센서의 설계 및 제작
대한전기학회 학술대회 논문집
1999 .11
28nm CMOS 공정을 이용한 낮은 공급 전원에서 동작하는 저전압 Bandgap Reference
대한전자공학회 학술대회
2019 .06
고해상도 CMOS A / D 변환기를 위한 디지털 교정 및 보정 회로 설계 ( Digital Correction and Calibration Circuits for a High-Resolution CMOS A / D Converter )
대한전자공학회 학술대회
1995 .11
CMOS 이미지 센서를 위한 A/D 변환기의 설계
대한전기학회 학술대회 논문집
1999 .11
CMOS 0.35㎛ 공정을 이용한 다중 에너지 하베스팅 센서노드 회로
대한전자공학회 학술대회
2015 .06
0.5㎛ 이하의 CMOS 기술을 위한 공정 및 소자 설계에 관하여 (On the Process and Device Design for Sub-0.5㎛ CMOS Technology )
대한전자공학회 학술대회
1989 .01
CMOS 회로에 대한 테스트 생성 방법 ( A Test Generation Method for CMOS Circuits )
대한전자공학회 학술대회
1988 .11
고해상도 CMOS A/D 변환기를 위한 디지탈 교정 및 보정 회로 설계
대한전자공학회 학술대회
1995 .12
CMOS 회로의 테스트 생성 알고리즘 ( A Test Generation Algorithm for CMOS Circuits )
전자공학회지
1984 .11
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