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대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 학술대회 논문집 (교환/네트워크기술) 1998.01
발행연도
1998.1
수록면
265 - 268 (4page)

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1999

선험적 고장 데이터에 의한 TDX 계열 교환 소프트웨어 결함 검출율 분석 ( An Examination of Fault Exposure Rate of Switching Software of TDX Series from Empirical failure data )
이재기 ,  신상권 ,  홍성백 전자공학회논문지-S 1999.03 학술저널

1998

대규모 교환 시스템의 결함 검출율 분석과 소프트웨어 신뢰도 평가 ( An Analysis of Fault Exposure Rate and Estimation of Software Reliability in Large Scale Switching System )
이재기 ,  신상권 대한전자공학회 학술대회 1998.01 학술대회자료

1995

대형 교환기의 시스템 신뢰도 평가 ( Reliability Evaluation of Large Switching System )
이재기 ,  김상현 ,  이형호 한국통신학회 학술대회논문집 1995.11 학술대회자료

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