게이트와 드레인 / 소오스 단락결함을 갖는 CMOS 회로의 스위치 레벨 결함 시뮬레이터 구현 ( An Implementation of the Switch - Level Fault Simulator for CMOS Circuits with a Gate - to - Drain / Source Short Fault )

정금섭 ,  전흥우

전자공학회논문지-A

1994 .04

FAULT MODELING AND SIMULATION FOR VLSI CIRCUITS

Min Sup Kang ,  Hi ,  oaki Iwashita 외 4명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1989 .01

CMOS VLSI 회로에서 논리추출을 위한 효율적인 알고리즘 ( An Efficient Logic Extraction Algorithm for CMOS VLSI Circuits )

정자춘 ,  강민섭 ,  이철동 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1988 .01

Elements of CMOS VLSI System Design

Sung Mo Kang

대한전자공학회 워크샵

1985 .01

CMOS 기술을 이용한 신경회로망의 VLSI 구현 ( VLSI Implementation of Neural Networks Using CMOS Technology )

정호선

전자공학회논문지

1990 .03

LSI/VLSI의 의사-전체검사를 위한 Fault Simulator 개발에 관한 연구 ( A Study on the Development of Fault Simulator for the Pseudo-exhaustive Test of LSI/VLSI )

이강현 ,  김용득

전자공학회논문지-B

1995 .04

Investigation of Fault-Mode Behaviors of Matrix Converters

Sang-Shin Kwak

JOURNAL OF POWER ELECTRONICS

2009 .11

CMOS 회로의 결함검출을 위한 BIC 설계 ( A Design of BIC for Fault Detection in CMOS VLSI )

이효상 ,  류진수 ,  서정훈 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

CMOS 회로의 결함검출을 위한 BIC 설계

이효상 ,  류진수 ,  서정훈 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

Discrete 다층퍼셉트론 모델의 학습 방법 및 Cmos VLSI회로 구현 ( Discrete MLP Training Algorithm & Cmos VLSI Implementation )

이경훈 ,  정호선

대한전자공학회 학술대회

1991 .07

Discrete 다층퍼셉트론 모델의 학습 방법 및 CMOS VLSI 회로 구현

이경훈 ,  정호선

대한전자공학회 학술대회

1991 .06

An Extended Digital Fault Simulator

M. S. Kang ,  H. Iwashita ,  H. Deguchi 외 2명

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1990 .01

회전체 결함 평가를 위한 테스트베드 개발

송수환 ,  이상헌 ,  신기홍

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2013 .10

Mixed-Level CMOS 회로의 고속 고장 시뮬레이션 ( Fast Fault Simulation for Mixed-Level CMOS Circuits )

박은세 ,  이명기 ,  박영호 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

A Rule-Based System for VLSI Gate-level Logic Optimization

Seong Bong Lee ,  Jong Hwa Chong

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1988 .01

CMOS VLSI의 전류 테스팅을 위한 자동 테스트 패턴 생성기의 구현

류진수 ,  이효상 ,  송근호 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .06

CMOS VLSI의 전류 테스팅을 위한 자동테스트 패턴 생성기의 구현 ( Implementation of Automatic Test Pattern Generator for Current Testing In CMOS VLSI )

류진수 ,  이효상 ,  송근호 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

POWER-BUS NOISE CONTROL FOR HIGH-SPEED CMOS VLSI CIRCUITS

Soo Ik Chae

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1989 .01

CMOS VLSI Stuct-open fault에 대한 Test Generation

趙相福 ,  林寅七

대한전자공학회 학술대회

1983 .11

CMOS회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘

김윤홍 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .12