SED :  회로일치성 검증의 효율적인 결과분석을 위한 설계오류 분석 시스템 ( SED :  Smart Error Debugger for Efficient Analysis of Layout .vs. Schematic Consistency Check )

문인호; 김현정; 오성환; 이상훈

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자료유형: 학술대회자료

저자정보: 문인호 김현정 오성환 이상훈

저널정보: 대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 학술대회 논문집 제10권 1호

발행연도: 1987.11

수록면: 734 - 737 (4page)

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