전자부품 고장모드를 고려한 Built-In-Test 성능분석

서준호; 고진영; 박한준

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자료유형: 학술저널

저자정보: 서준호 (SAMSUNG THALES) 고진영 (SAMSUNG THALES) 박한준 (SAMSUNG THALES)

저널정보: 한국항공우주학회 한국항공우주학회지 韓國航空宇宙學會誌第43卷第5號

발행연도: 2015.5

수록면: 449 - 455 (7page)

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Built-In-Test(이하: BIT)는 항공기 비행안전을 위해 반드시 필요한 기능으로 항공전자 장비의 경우 95% 이상의 높은 고장 진단능력을 요구하고 있다. BIT가 요구도에 명시된 고장진단능력을 만족시키는지 확인하기 위해 BIT 성능분석이 필요하다. BIT 성능분석을 위해 FMECA (Failure Mode Effect Critical Analysis)에 기술된 고장모드를 활용하는 방법이 많이 사용되고 있으나, 본 논문에서는 분석 오류를 최소화할 수 있는 전자부품 기반의 BIT 성능분석 방법론을 소개한다. 또한, BIT 성능분석에서 제외될 수 있는 비행안전에 영향을 미치지 않는 전자부품 및 전자부품의 고장모드를 실제 개발사례에 적용하여 불필요한 BIT기능 구현을 방지하고 정확한 BIT 성능분석을 수행할 수 있도록 하였다. BIT Demo를 수행하여 BIT 성능분석 결과와 실제 BIT 성능이 일치함을 확인하였다.

#Built-In-Test(내장시험) #Failure Mode(고장 모드) #Failure Detection Rate(고장탐지율) #Failure Isolation Rate(고장격리율)

참고문헌 (8)

참고문헌 신청

1. [학술지(정기간행물)] - M. Pecht / 2001 / Evaluation of Built-In Test / IEEE Transactions on Aerospace and Electronics Systems 37 (1)

2. [학술지(정기간행물)] - 김성우 / 2012 / 한국형 기동헬기 자체진단 시험 설계 및 입증 / 한국항공우주학회지 40 (7) : 623 ~ 628

3. [학술지(정기간행물)] - Wg Cdr Nikhil Verma / 2013 / A Study of Reliability and Failure Rate for Comparing BIT and non-BIT maintenance cycles in AONA / International Journal of Emerging Technology and Advanced Engineering 3 (2)

4. [학술지(정기간행물)] - Posenthal, D. / 1990 / Predicting and eliminating built-in test false alarms / IEEE Transactions on Reliability : 500 ~ 505

5. [학술지(정기간행물)] - Sheppard J. W. / 1992 / Applying Testability Analysis for Integrated Diagnostics / IEEE Design and Test of Computer 9 (3) : 65 ~ 78

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