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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2014.10
- 수록면
- 228 - 231 (4page)
이용수
초록· 키워드
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This paper introduces an improvement in accuracy of MEMS-based low cost wave height measurement systems. Wave height measurement systems using low cost inertial sensors suffer from noise causing accumulation error as time passes. We apply curve fitting using Sum of Sine Model(SSM) to a MEMS-based low cost wave height measurement system so as to remove noise. So the system can be free with accumulation error. Also, by applying curve fitting independently every half period of wave, we can make a robust system against change of the period of wave. With SSM, the proposed system has more accurate wave height measurement ability than general wave height measurement systems.
목차
Abstract
I. 서론
II. 본론
Ⅲ. 실험
Ⅳ. 결론 및 향후 연구 방향
참고문헌
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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2016-560-000989546