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학술저널
저자정보
Gyungtae Kim (Chungnam National University) Changho Seok (Department of Electronics) Taehyun Kim (National Nanofab Center) Jae Hong Park (National Nanofab Center) Heeyeoun Kim (National Nanofab Center) Hyoungho Ko (Department of Electronics)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.14 No.6
발행연도
2014.12
수록면
733 - 740 (8page)

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A resistive micro Pirani gauge using amorphous silicon (a-Si) thin membrane is proposed. The proposed Pirani gauge can be easily integrated with the other process-compatible membrane-type sensors, and can be applicable for in-situ vacuum monitoring inside the vacuum package without an additional process. The vacuum level is measured by the resistance changes of the membrane using the low noise correlated double sampling (CDS) capacitive trans-impedance amplifier (CTIA). The measured vacuum range of the Pirani gauge is 0.1 to 10 Torr. The sensitivity and non-linearity are measured to be 78 ㎷ / Torr and 0.5% in the pressure range of 0.1 to 10 Torr. The output noise level is measured to be 268 μV<SUB>rms</SUB> in 0.5 ㎐ to 50 ㎐, which is 41.2% smaller than conventional CTIA.

목차

Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. MICRO PIRANI GAUGE
Ⅲ. LOW NOISE CDS-CTIA
Ⅳ. PERFORMANCE EVALUATION
Ⅴ. CONCLUSIONS
REFERENCES

참고문헌 (10)

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