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학술저널
저자정보
Garam Kim (Seoul National University) Jang Hyun Kim (Seoul National University) Euyhwan Park (Seoul National University) Byung-Gook Park (Seoul National University)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.14 No.5
발행연도
2014.10
수록면
588 - 593 (6page)

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Current crowding problem can worsen the internal quantum efficiency and the negative-voltage ESD of InGaN-based LEDs. In this paper, by using photon emission microscope and thermal emission microscope measurement, we confirmed that the electric field and the current of the InGaN-based LED sample are crowded in specific regions where the distance between p-type metal contact and n-type metal contact is shorter than other regions. To improve this crowding problem of electric field and current, modified metal contact geometry having uniform distance between the two contacts is proposed and verified by a numerical simulation. It is confirmed that the proposed structure shows better current spreading, resulting in higher internal quantum efficiency and reduced reverse leakage current.

목차

Abstract
I. INTRODUCTION
II. DISTRIBUTION OF SURFACE TEMPERATURE
III. ESD CHARACTERISTICS
IV. NUMERICAL SIMULATION
V. CONCLUSIONS
REFERENCES

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