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Sung Woong Jeon (충남대학교) Cheol Kim (충남대학교) Jong-Chan Park (충남대학교) Dong Soo Kim (한밭대학교) Chung Hwan Kim (충남대학교)
저널정보
Korean Society for Precision Engineering Journal of the Korean Society for Precision Engineering 한국정밀공학회지 Vol.31 No.11
발행연도
2014.11
수록면
981 - 986 (6page)

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Printed electronics devices are made of several sets of printed patterns. The quality or printability of the printed patterns determines the electrical performance of such devices. Moreover, control of the printability determines the reliability of such devices. Despite its importance, few studies have been reported for the measurement of the printed patterns to evaluate their printability. In this study, a measurement method is proposed for printed patterns, including the definition of the properties to be measured, and the related software is described. The proposed method measures the width, pinholes, and edge waviness and evaluates the printability of the patterns quantitatively. The proposed measurement method could be an efficient tool to evaluate and enhance the printability of printed patterns in printed electronics.

목차

1. Introduction
2. Development of pattern measurement software
3. Measurement of geometric properties of printed patterns
4. Evaluation of printability of printed patterns
5. Conclusion
REFERENCES

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