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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
Tae-Kyu Lee (Cisco Systems, Inc.)
저널정보
대한용접·접합학회 대한용접·접합학회지 大韓熔接·接合學會誌 第32卷 第3號
발행연도
2014.6
수록면
53 - 59 (7page)

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The mechanical stability of solder joints in electronic devices with Sn-Ag-Cu is a continuous issue since the material was applied to the industry. Various shock test methods were developed and standardized tests are used in the industry worldwide. Although it is applied for several years, the detailed mechanism of the shock induced failure mechanism is still under investigation. In this study, the effect of external temperature was observed on large Flip-chip BGA components. The weight and size of the large package produced a high strain region near the corner of the component and thus show full fracture at around 200G level shock input. The shock performance at elevated temperature, at 100℃ showed degradation based on board pad designs. The failure mode and potential failure mechanisms are discussed

목차

Abstract
1. Introduction
Experimental Procedure
Results and Discussion
Conclusions
References

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