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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
백승엽 (인덕대학교) 장성민 (조선이공대학교)
저널정보
Korean Society for Precision Engineering Journal of the Korean Society for Precision Engineering 한국정밀공학회지 Vol.31 No.3
발행연도
2014.3
수록면
207 - 213 (7page)

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A study was carried out to fabricate the cutting tool geometry with micro/nanoscale on the single crystal diamond tool by using the FIB. The FIB technique is an ideal tool for TEM sample preparation that allows for the fabrication of electron-transparent foils. The FIB is appropriate techniques to sample and subsequently define the chemical composition and the structural state of mineral inclusion on the micro/nanoscale. The combination of FIB with a SEM allows for 3D information to be obtained from samples including 3D imaging. Cutting strategies were demonstrated to improve the performance of cutting tool geometry and to generate high aspect ratio micro cutting tool. A finely focused beam of 30keV Ga+ ions was used to mill cutting tool shapes for various micro patterns. Therefore FIB sputtering is used to shape a variety of cutting tools with dimensions in the 1-5㎛range and cutting edge radii of curvature of under 50nm.

목차

1. 서론
2. 단결정 다이아몬드 공구 형상
3. 다이아몬드 절삭공구 제작
4. 실험 결과 및 고찰
5. 결론
참고문헌

참고문헌 (22)

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