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최근 새롭게 보급되는 휴대기기(스마트폰, 울트라북, 태블릿 PC)로 인하여 고용량과 빠른 속도를 원하는 소비자가 증가하고 있다. 이에 따라 Flash Memory의 수요도 지속적으로 증가하고 있다. Flash Memory는 NAND형과 NOR형으로 구분되어 있다. NAND형 Flash Memory는 NOR형 Flash Memory에 비해 속도는 느리지만 가격이 저렴하다. 그렇기 때문에 NAND형 Flash Memory는 Mobile 시장에서 많이 사용되어지고 있다. 그래서 Flash Memory Test를 위한 Fault 검출은 메우 중요하다. 본 논문에서는 Fault 검출 향상을 위한 NAND형 Flash Memory의 Pattern Test를 위한 PMBIST를 제안한다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 실험
Ⅳ. 결론
REFERENCES
참고문헌 (10)
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1. [학술지(정기간행물)] - Pavan P / 1997 / Flash memory cells—. an overview / Proc IEEE 85 (8) : 1248 ~ 1271
2. [학술지(정기간행물)] - Yu-Ying Hsiao / 2010 / Built-In Self-Repair Schemes for Flash Memories / IEEE Transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems 29 (8)
3. [학술대회논문] - M. G. Mohammad / 2000 / Testing Flash Memories / Proceedings of Thirteenth Intel Conference on VLSI Design : 406 ~ 411
4. [학술대회논문] - Nur Qamarina Mohd Noor / 2009 / An Overview Of Microcode based and FSM based Programmable Memory Built-In Self Test (MBIST) Controller for Coupling Fault Detection / IEEE Symposium on Industrial Electronics and Applications
5. [학술대회논문] - V. G. Mikitjuk / 1996 / RAM Testing Algorithms for Detection Multiple Linked Faults / IEEE European Design and Test Conference : 435 ~ 439
2. [학술지(정기간행물)] - Yu-Ying Hsiao / 2010 / Built-In Self-Repair Schemes for Flash Memories / IEEE Transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems 29 (8)
3. [학술대회논문] - M. G. Mohammad / 2000 / Testing Flash Memories / Proceedings of Thirteenth Intel Conference on VLSI Design : 406 ~ 411
4. [학술대회논문] - Nur Qamarina Mohd Noor / 2009 / An Overview Of Microcode based and FSM based Programmable Memory Built-In Self Test (MBIST) Controller for Coupling Fault Detection / IEEE Symposium on Industrial Electronics and Applications
5. [학술대회논문] - V. G. Mikitjuk / 1996 / RAM Testing Algorithms for Detection Multiple Linked Faults / IEEE European Design and Test Conference : 435 ~ 439
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