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저자정보
Ji-Soo Hwang (성균관대학교) N. H. Kim (성균관대학교) J. M. Jo (성균관대학교) K. J. Kim (성균관대학교) S. K. Kwak (성균관대학교) S. Y. Kim (성균관대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2012년도 대한전자공학회 하계종합학술대회
발행연도
2012.6
수록면
1,403 - 1,406 (4page)

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With the shrinking of circuit geometry and the increasing of operating frequency, the influence of Electromagnetic Interference (EMI) and crosstalk noise becomes significant. In this paper, the EMI noise was injected via Direct Power Injection (DPI) method to the bus structure of aggressor lines those are laying between driver and receiver. And the crosstalk was observed on the end of the victim line. The influence of EMI on crosstalk is getting more significant as its magnitude becomes larger. If grounded shielding lines between the signal lines are used, the crosstalk can be reduced. Also, the frequency dependent transfer impedence of the test structure including DPI was considered to clarify the crosstalk which varies with the RF noise frequency.

목차

Abstract
Ⅰ. Introduction
Ⅱ. Design for Test Structure
Ⅲ. Simulation & Results
Ⅳ. Conclusion
References

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