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학술대회자료
저자정보
김지훈 (고려대학교) 박정호 (고려대학교) 황성민 (전자부품연구원) 서용곤 (전자부품연구원)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2012년도 대한전자공학회 하계종합학술대회
발행연도
2012.6
수록면
175 - 178 (4page)

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We report on the effect of basal-plane stacking faults (BPSFs) on optical properties of nonpolar a-plane GaN and InGaN/GaN multi-quantum wells (MQWs). The BPSFs are shown as thin lines when transmission electron microscopy images are obtained under two-beam conditions with g=1-100. Temperature-dependent photoluminescence (TDPL) of the a-plane GaN template revealed the BPSFs-related emission peak of 3.43 eV, which was fitted well with Varshni"s formula indicating temperature-induced band-gap shrinkage. We also found that the low energy-side emission peak in the TDPL spectra of InGaN/GaN MQWs was due to localization of carriers in quantum wire-like regions where the BPSFs intersect the QWs.

목차

Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 실험
Ⅲ. 본론
Ⅳ. 결론 및 향후 연구 방향
참고문헌

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