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Yongfu Cai (Nagaoka University of Technology) Mitsuharu Aoyagi (Nagaoka University of Technology) Akira Emoto (National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)) Tatsutoshi Shioda (Nagaoka University of Technology) Takayuki Ishibashi (Nagaoka University of Technology)
저널정보
한국자기학회 Journal of Magnetics Journal of Magnetics Vol.18 No.3
발행연도
2013.9
수록면
317 - 320 (4page)

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We studied the polarization state in an apertureless scanning near-field microscopy (a-SNOM) operating in reflection mode by using three-dimensional Finite-difference Time-domain (FDTD) method. As a result, the electric field around tip apex in the near-field region enhanced four times stronger than the incident light for ppolarization when the tip-sample separation was 10 nm. We find that the p- and s-polarization state is maintained for the scattered light when the probe is perpendicular to the sample. When the probe is not perpendicular to the sample, the polarization state of scattered light will rotate an angle that equals to the inclination angle of probe with p-polarization illumination. On the other hand, the polarization state will not rotate with s-polarization illumination.
#scanning near-field optical microscopy #FDTD #magneto-optical #near-field optical #polarization state

목차

1. Introduction
2. FDTD Simulation in Ideal Case
3. Polarization State Dependence on the Inclination of Probe
4. Conclusion
References

참고문헌 (5)

참고문헌 신청
E. Betzig / 1992 / Appl. Optics 31:4563 google schola Y. Mitsuka / 1998 / J. Appl. Phys 83:3998 google schola G. Eggers / 1998 / Ultramicroscopy 71:249 google schola R. hillenbrand / 2002 / Appl. Phys. Lett 80:25 google schola M. Aoyagi / 2012 / IEEE Trans. Magn 48:3670 google schola

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