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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
윤필영 (홍익학교) 백태현 (충북대학교) 송희은 (한국에너지기술연구원) 정하승 (홍익대학교) 신승원 (홍익대학교)
저널정보
대한기계학회 대한기계학회 논문집 B권 대한기계학회논문집 B권 제37권 제9호
발행연도
2013.9
수록면
823 - 828 (6page)

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이 논문의 연구 히스토리 (4)

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실리콘 태양전지의 두께를 줄일 경우 여러 문제점이 발생하게 되는데 그 중에서 태양전지의 휨 현상은 제품 수율의 직접적인 원인이 되어 제품 상용화에 가장 큰 걸림돌이 되고 있다. 본 연구에서는 태양전지의 실리콘 웨이퍼 두께를 가변하였을 때의 휨 정도에 대해 정밀하게 측정하고자 하였다. 측정결과의 신뢰성을 높이고 비 대칭성 형상에 대해 자세하고 정밀하게 분석하기 위해 3D 이미지 스캐너를 사용하였다. 그 결과 실리콘 웨이퍼의 두께가 감소할수록 휨 정도는 급격하게 증가하고 곡률 또한 증가하는 것을 확인할 수 있었다. 실리콘 웨이퍼의 두께가 감소할 수록 휨 정도의 편차가 증가하여 형상의 비 대칭성이 증가하는 것 또한 확인되었다. 또한 Ag 전극의 부착이 휨 현상을 어느 정도 감소시키는 것을 알 수 있었다.

목차

초록
Abstract
1. 서론
2. 실험방법
3. 측정방법
4. 결과 및 고찰
5. 결론
참고문헌

참고문헌 (7)

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