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한국비파괴검사학회 비파괴검사학회지 비파괴검사학회지 제20권 제6호
발행연도
2000.12
수록면
511 - 520 (10page)

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목차

초록
Abstract
1. 서론
2. 디컨볼루션 기법
3. 웨이브렛 변환 기법
4. 웨이브렛 변환 기반 디컨볼루션(WTBD) 기법
5. 시뮬레이션
6. SAM을 이용한 반도체 실리콘 칩의 계면 들뜸 검사에의 적용
7. 실험결과 및 고찰
8. 결론
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