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본 논문에서는 개선된 특징추출을 이용한 원자력 발전소 증기발생기 세관의 결함 형태 분류에 대한 연구를 수행한다. 본 논문에서는 4가지 축대칭 결함, 즉 I-In 형태, I-Out 형태, V-In 형태, V-Out 형태 결함을 고려한다. 유한요소법에 기초한 수치해석 프로그램을 이용하여 결함의 폭과 깊이를 변화시켜가면서 400개의 와전류탐상시험(ECT) 신호를 생성하였다. 이와 같이 생성된 ECT 신호로부터 새로운 특징을 제안하였는데, 여기에는 최대 임피던스 값을 갖는 점과 최대 임피던스 값의 1/2의 값을 갖는 점 사이의 위상각과 최대임피던스 값을 갖는 점과 최대 임피던스 값의 10%, 20%, 30%, 40%를 갖는 점사이의 위상각들이 포함된다. 또한, 결함형태를 분류하기 위하여 은닉층이 하나인 다층퍼셉트론을 사용하였다. 컴퓨터 모의실험 연구를 통하여 제안된 방법이 최대오차와 평균제곱오차 측면에서 향상된 결함 분류 성능을 얻는다는 것을 보였다.
목차
초록
Abstract
1. 서론
2. 결함 형태 분류를 위한 개선된 특징 추출
3. 다층 퍼셉트론
4. 컴퓨터 모의실험
5. 결론
참고문헌
참고문헌 (12)
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1. [학술지(정기간행물)] - E. E. Kriezis / 1992 / Eddy currents: theory and applications / Proceedings of the IEEE 80 (10) : 1559 ~ 1589
2. [학술지(정기간행물)] - H. B. Lee / 2000 / Impedance calculation for a plate with crack in eddy current NDT using 3D indirect BIEM / IEEE Transactions on Magnetics 36 (5) : 3131 ~ 3133
3. [학술지(정기간행물)] - K. Miya / 2002 / Recent advancement of electro- magnetic nondestructive inspection technolo- gy in Japan / IEEE Transactions on Magnetics 38 (2) : 321 ~ 326
4. [학술지(정기간행물)] - M. Rebican / 2006 / Shape reconstruction of multiple cracks from ECT signals by means of a Stochastic method / IEEE Transactions on Magnetics 42 (4) : 1079 ~ 1082
5. [학술지(정기간행물)] - H. Fukutomi / 1997 / Numerical evaluation of ECT impedance signal due to minute cracks / IEEE Trans. on Magnetics 33 (2) : 2123 ~ 2126
2. [학술지(정기간행물)] - H. B. Lee / 2000 / Impedance calculation for a plate with crack in eddy current NDT using 3D indirect BIEM / IEEE Transactions on Magnetics 36 (5) : 3131 ~ 3133
3. [학술지(정기간행물)] - K. Miya / 2002 / Recent advancement of electro- magnetic nondestructive inspection technolo- gy in Japan / IEEE Transactions on Magnetics 38 (2) : 321 ~ 326
4. [학술지(정기간행물)] - M. Rebican / 2006 / Shape reconstruction of multiple cracks from ECT signals by means of a Stochastic method / IEEE Transactions on Magnetics 42 (4) : 1079 ~ 1082
5. [학술지(정기간행물)] - H. Fukutomi / 1997 / Numerical evaluation of ECT impedance signal due to minute cracks / IEEE Trans. on Magnetics 33 (2) : 2123 ~ 2126
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