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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
황순미 (전자부품연구원) 정용백 (전자부품연구원) 김철희 (전자부품연구원) 이관훈 (광운대학교)
저널정보
한국신뢰성학회 신뢰성응용연구 신뢰성응용연구 제12권 제3호
발행연도
2012.9
수록면
153 - 163 (11page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2014

표면처리에 따른 FR-4 재질 PCB에서의 이온마이그레이션 가속시험
황순미 ,  김철희 ,  이관훈 외 4명 한국신뢰성학회 학술대회논문집 2014.11 학술대회자료

2012

Sn 표면처리된 FR-4 재질 PCB에서의 이온마이그레이션 가속시험
황순미 ,  정용백 ,  김철희 외 1명 신뢰성응용연구 2012.09 학술저널

초록· 키워드

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Recently, as a electronic components are becoming more high-density, so that electronic circuits have smaller pitches between the leads and are more vulnerable to insulation failure. And the reliability of electric insulation has become an ever important issue as device contact pitches and print patterns shrink. Ion migration occurs in highly humid environment as voltage is applied to an installed print circuit. Under highly humid and voltage applied circumstances, electronic components respond to applied voltages by electrochemical ionization of metals, and a conducting filament forms between the anode and cathode across a nonmetallic medium. This leads to short-circuit failure of the electronic component.
In thesis, we study acceleration test of ion migration in FR-4 PCB plated with Sn. Voltage applied test of FR-4 PCB circuits plated with Sn was tested in the temperature and humidity environments. As a result of this test, equation of acceleration model was derived.
#Acceleration test #Ion migration #Ion migration in FR-4 PCB plated with Sn #PCB reliability test

목차

Abstract
1. 서론
2. 가속시험 설계
3. 가속시험결과
4. 결론
참고문헌

참고문헌 (8)

참고문헌 신청
1. [학술지(정기간행물)] - B. Rudra / 1994 / Failure-Mechanism for Conductive-Filament Formationies / IEEE Transactions on Reliability 43 (3) : 354 ~ 360 google schola 2. [학술지(정기간행물)] - 홍원식 / 2005 / 금속 이온 마이그레이션의 해석적 방법 / 대한용접접합학회지 23 (2) : 32 ~ 40 dbpia 3. [학술지(정기간행물)] - C.A.O. Peixoto / 1988 / Failure of Transmission Line Cap and Pin Insulators under DC Stresses / IEEE Transactions on Power Delivery 3 (2) : 777 ~ 782 google schola 4. [학술대회논문] - F. Yeung / 1994 / Electrical failure of multilayer ceramic capacitors caused by high temperature and high humidity environment / Proceedings of 44th Electronic Components and Technology Conference 847 (853) google schola 5. [학술대회논문] - 김종걸 / 2001 / 고 신뢰성 확보를 위한 가속시험의 연구동향 분석 : 419 ~ 432 dbpia

이 논문의 저자 정보

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이동원 ,  박성준 ,  장준영 외 1명 한국가스학회 학술대회논문집 2014 .11
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