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라만 분광기는 그래핀의 특성을 분석하기 위한 필수적인 방법이다. 상용 마이크로 라만 분광기는 작은 면적에 대해 유용하게 사용되고 있으나 작은 면적 측정으로 인하여 산업적으로는 시료 측정 등에 제한적으로 사용되고 있다. 본 논문에서는 그래핀의 대면적 이미지 얻을 수 있는 라만 분광기에 대해 제안하였다. 이 이미지를 이용하여 그래핀의 유무 및 결함에 대한 정보를 빠르게 얻었다. 이를 이용하여, 실시간으로 그래핀에 대한 결함 유무, 층 수에 대한 균일도를 확인할 수 있으며, 양산 그래핀에 대한 품질 평가에 활용할 수 있을 것이다.
목차
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 라만 분광법을 이용한 대면적 이미지 장치
Ⅲ. 그래핀의 라만 스펙트럼
Ⅳ. 그래핀에 대한 대면적 라만 이미지
Ⅴ. 결론
References
참고문헌 (8)
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A. K. Geim / 2009 / Graphene: status and prospects / Science 324:1530~1534
Y. Zhu / 2010 / Graphene and graphene oxide: synthesis, properties, and applications / Advanced Materials 22:3906~3924
C. Berger / 2004 / Ultrathin epitaxial graphite: 2D electron gas properties and a route toward graphen-based nanoelectronics / J. Phys. Chem B 108:19912~19916
K. S. Kim / 2009 / Large-scale pattern growth of graphene films for stretchable transparent electrodes / Nature 457:760~710
R. W. Havener / 2012 / High-throughput graphene imaging on arbitrary substrates with widefield Raman spectroscopy / ACS Nano 6:373~380
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