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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
Yoonsuk Kim (공군사관학교) Minsu Kim (공군사관학교)
저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지 전자공학회논문지 제50권 3호
발행연도
2013.3
수록면
16 - 22 (7page)

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n 개의 균일한 결합선로를 해석하기 위하여 2n-port 어드미턴스 매트릭스의 추출에 기초한 일반적인 특성화 절차가 제시된다. 본 논문에서는 비대칭 다중 결합선로를 해석하기 위하여 시간영역의 유한차분법을 사용하여 정규화 모드 파라미터 접근법의 적용을 제안한다. 주파수 의존적인 정규화 모드 파라미터는 2n-port 어드미턴스 매트릭스로부터 얻어지고, 이로부터 주파수 의존적인 전파상수와 유효 유전율 및 결합선로의 특성임피던스를 계산할 수 있다. 이 기법을 설명하기 위해 몇몇의 실질적인 다중 유전체상의 결합선로 구조들이 모의 실험되었으며, 특히 전도체가 유전체 사이에 내재된 형태의 선로가 해석되었다. 시간영역 유한 차분법을 활용한 결과는 Spectral Domain Method의 모의실험 결과와 비교하였고, 잘 일치함을 보였다. 시간영역의 특성화 절차에 기인한 유한차분법은 얇거나 두꺼운 혼성 구조 뿐 아니라 다층 PCB상의 다중의 전도체 결합 선로 설계를 위한 훌륭한 광대역 모의실험 도구가 됨을 볼 수 있다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. MODELING OF MULTI-LAYERED SYMMETRIC AND ASYMMETRIC MULTI COUPLED LINE
Ⅲ. SIMULATION RESULTS FOR TWO LAYERED THREE COUPLED LINE EMBEDDED STRUCTURE
Ⅴ. CONCLUDING REMARKS
Ⅵ. REFERENCES

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