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본 논문에서는 고속 인터페이스 비트오류율(BER, Bit Error Rate)의 수학적 모델을 기반으로, 간단하고 정확하게 시간마진을 추정할 수 있는 ‘선형 근사화 추정법(linear approximation method)’을 제안하였다. 기존의 Q-factor를 이용한 추정법과 제안한 선형 근사화 추정법을 이용하여 10<SUP>-13</SUP> 이하의 BER을 얻기 위한 시간마진을 추정한 결과는 실측한 값과 비교할 때 약 0.03UI 정도의 작은 오차를 갖는다. 이 중 선형 근사화를 이용한 가속 자가내장측정법(built-in self test)을 내부 BERT(BER Tester)를 포함한 하드웨어로 구현하였다. 3Gbps, 95% 신뢰 수준에서 10<SUP>-13</SUP> BER 기준의 시간마진을 직접 측정하는데 소요되는 시간이 약 5.6시간인데 반해, 가속 자가내장측정법은 0.6초 이내에 유사한 정확도로 시간마진을 추정한다. 시간마진 추정치는 시간마진을 내부 BERT로 직접 측정한 값과 0.045UI 이하의 작은 오차를 보였다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. BER 관련 기존 연구
Ⅲ. 선형 근사화(linear approximation) 추정법
Ⅳ. 검증 및 분석
Ⅴ. 결론
참고문헌
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1. [학술지(정기간행물)] - Jung-Hoon Chun / 2008 / High speed interface circuit design and test schemes for memory systems / Korea Information and Communications Society
2. [학술대회논문] - Seong-Won Kang / 2011 / A Study on Accelerated Built-in Self Test of Multi-Gb/s High Speed Interfaces / IEEE Networked Embedded Systems for Enterprise Applications (NESEA)
3. [인터넷자원] - / / J-BERT N4903B High-Performance Serial BERT User Guide
4. [학위논문] - Yongquan Fan / 2010 / Accelerating Jitter and BER Qualifications of High Speed Serial Communication Interfaces / 박사 / McGill University
5. [학술대회논문] - Y. Cai / 2002 / Jitter Testing for Multi-Gigabit Backplane SerDes – Techniques to Decompose and Combine Various Types of Jitter / Proceedings of IEEE International Test Conference : 700 ~ 709
2. [학술대회논문] - Seong-Won Kang / 2011 / A Study on Accelerated Built-in Self Test of Multi-Gb/s High Speed Interfaces / IEEE Networked Embedded Systems for Enterprise Applications (NESEA)
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4. [학위논문] - Yongquan Fan / 2010 / Accelerating Jitter and BER Qualifications of High Speed Serial Communication Interfaces / 박사 / McGill University
5. [학술대회논문] - Y. Cai / 2002 / Jitter Testing for Multi-Gigabit Backplane SerDes – Techniques to Decompose and Combine Various Types of Jitter / Proceedings of IEEE International Test Conference : 700 ~ 709
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