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저자정보
Yeonseong Hwang (동국대학교) Jangwoo Lee (동국대학교) Daeyun Kim (동국대학교) Minkyu Song (동국대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 ISOCC ISOCC 2012 Conference
발행연도
2012.11
수록면
309 - 312 (4page)

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Many kinds of wide dynamic range (WDR) CMOS Image Sensors (CIS) have been developed, such as a multiple sampling, a multiple exposure technique, and so on. However, those techniques have some drawbacks of noise increasing, large power consumption, and huge chip area. In this paper, a new Single-Slope ADC (SS-ADC) for gamma correction with a nonlinear counter is described. Since the proposed scheme is easily implemented with a simple algorithm, we can reduce power consumption and chip area drastically. Further, the new SS-ADC for gamma correction enhances the Dynamic Range (DR) by 24㏈. The proposed ADC, which has been fabricated using a 0.13㎛ CIS process, achieves a 57.6㏈ SNDR at 50kS/s.
#CMOS image sensor #Gamma correction ADC #wide dynamic range #single-slope ADC

목차

Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. PROPOSED CIS ARCHIECTURE
Ⅲ. VLSI IMPLEMENTATION
Ⅳ. EXPERIMENTAL RESULTS
Ⅴ. CONCLUSIONS
REFERENCES

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