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저자정보
김성우 (부경대학교) 류지열 (부경대학교) 임재환 (부산테크노파크) 배종일 (부경대학교)
저널정보
제어로봇시스템학회 제어로봇시스템학회 국내학술대회 논문집 2011 제26회 ICROS 학술대회
발행연도
2011.5
수록면
561 - 563 (3page)

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In this paper, we propose a new automatic defect test system for a fine pattern COF (chip-on-film). The developed system detects automatically various defects of a COF with width of less than 24㎛ and pitch of less than 30㎛. The defects contain variety of defects such hard open, hard short, mouse bite (soft open) and near short (soft short). ... 전체 초록 보기
#COF (chip-on-film) #defects #fine pitch #fine width #radio frequency resonator

목차

Abstract
1. 서론
2. 검사시스템 결함 검출원리 및 시스템 설계
3. 시뮬레이션 및 측정결과
4. 결론
참고문헌

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