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저널정보
대한전자공학회 ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications International Conference on Electronics, Informations and Communications (ICEIC) 2006, Vol. 1
발행연도
2006.6
수록면
392 - 395 (4page)

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목차

Abstract
1. Introduction
2. Proposed image acquiring and pre-processing
3. Calibration
4. Extract infomation from the defect images
5. Measure algrothm of Blister
6. Experiment
7. Conclusion
References

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