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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2010.11
- 수록면
- 311 - 314 (4page)
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As the VLSI technology node is getting into the sub-100nm regime, the reliability issues caused by random interferences such as noise, process variations and manufacturing defects are changing the nature of digital computation from deterministic to probabilistic. This paper studies the principle of probabilistic-based Markov Random Field (MRF) design methodology for CMOS static logic gates. The MRF design technique is able to significantly improve the reliability and interference tolerance of the logic circuits. A Differential Cascode
Voltage Switch (DCVS) based MRF logic design method is proposed, which presents substantial noise immunity improvement over the normal MRF logic circuits. The proposed method is validated by simulation in 65nm CMOS technology.
Voltage Switch (DCVS) based MRF logic design method is proposed, which presents substantial noise immunity improvement over the normal MRF logic circuits. The proposed method is validated by simulation in 65nm CMOS technology.
목차
Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. RELATING MARKOV NETWORKS TO LOGIC CIRCUITS
Ⅲ. CIRCUIT DESIGN AND SIMULATION
Ⅳ. CONCLUSIONS
ACKNOWLEDGMENT
REFERENCES
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