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논문 기본 정보

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저자정보
Y. Todtong (Khon Kaen University) A. Siritaratiwat (Khon Kaen University)
저널정보
대한전자공학회 ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications ITC-CSCC : 2008
발행연도
2008.7
수록면
917 - 920 (4page)

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In hard-disk drive industry, a media disk is one important part. It contains multilayer of various materials, i.e. magnetic, nonmagnetic, DLC etc [1]. In the production line, during a test performed, contamination or nano-particles can cause scratching on media disk. The size of scratch can be in a range of nanometer-millimeter. In this paper, a technique of current density applied to media disk is proposed in association with thermal observation. A constant current is applied to media disk and then a current density on detecting point is measured. A variation of bias current, detecting point and scratch depth is studied.
#current density #scratch media #magnetic disk

목차

Abstract
1. Introduction
2. Experimental setup
3. Results and discussion
4. Conclusions
Acknowledgements
References

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