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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 저널정보
- Korean Institute of Information Scientists and Engineers 정보과학회논문지 : 시스템 및 이론 정보과학회논문지 : 시스템 및 이론 제38권 제5호
- 발행연도
- 2011.10
- 수록면
- 207 - 215 (9page)
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최근, 셀당 여러 비트를 저장하는 MLC 기술과 단위 면적당 저장 밀도를 향상시키는 기술의 적용으로 플래시 메모리의 용량은 크게 증가하고 있다. 하지만 이러한 기술들은 셀간 간섭을 증가시켜 읽기/쓰기 교란을 야기하며 프로그램/삭제 연산 횟수 제한과 데이터 유지 문제를 악화시켜, 플래시 메모리 기반 저장 장치의 신뢰성에 대한 걱정을 증가시키고 있다. 이러한 걱정을 완화할 수 있는 출발점으로 본 논문에서는 SSD의 신뢰성 이슈를 체계적이고 정량적으로 조사할 수 있는 방법론과 도구를 제안한다.. 이것은 SMART(Self Monitoring Analysis and Reporting Technology) 기술을 이용하여 SSD에서 블록들의 평균 삭제 횟수, I/O 응답 시간, 배드 블록 개수 등의 다양한 속성 정보를 여러 워크로드 상황에서 측정할 수 있다. 또한 측정된 결과를 분석하여 SSD의 평균 수명, 순차/임의 워크로드가 내구성에 끼치는 영향, 배드 블록의 발생이 성능에 끼치는 영향 등의 정보를 제공할 수 있다. 실제 6개의 SSD를 이용한 실험을 통해, 제안된 방법론 및 도구가 SSD의 내부 구조를 적절하게 분석하고 있으며, SSD의 신뢰성을 평가, 향상 시킬 수 있는 유용한 정보를 제공할 수 있음을 보였다.
목차
요약
Abstract
1. 서론
2. SSD를 위한 SMART 속성(attribute)과 임계값(threshold)
3. 신뢰성 분석 방법론 및 도구
4. 실험 및 결과 분석
5. TBW(TeraBytes Written) 예측에 고려 사항
6. 결론
참고문헌
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