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저자정보
Guannan Wei (National University of Singapore) Yung C. Liang (National University of Singapore) Ganesh S. Samudra (National University of Singapore)
저널정보
전력전자학회 ICPE(ISPE)논문집 ICPE 2011-ECCE Asia
발행연도
2011.5
수록면
1,464 - 1,468 (5page)

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This paper presents a practical methodology for realistic simulation on reverse characteristics of Wide Bandgap (WBG) SiC/GaN p-n junctions. The adjustment on certain physic-based model parameters, such as the trap density and photo-generation for SiC junction, and impact ionization coefficients and critical field for GaN junction are described. The adjusted parameters were used in Synopsys Medici simulation to obtain a realistic p-n junction avalanche breakdown voltage. The simulation results were verified through benchmarking against independent data reported by others.

목차

Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. PHYSICAL PARAMETERS
Ⅲ. SIMULATION RESULTS AND DISCUSSION
Ⅳ. CONCLUSIONS
ACKNOWLEDGEMENT
REFERENCES

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2013-560-000300741